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Olympus奧林巴斯可更換延遲塊探頭M2054
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：Olympus 型號：M2054 加工定制：否 適用對象：探傷測厚儀探頭 型號：M2054 加工定制：否 奧林巴斯延遲探頭高精度測厚探頭 M2054
高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時間分辨率。
• 短波長可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。
• 可對材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測法時，利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評價、材料分析或厚度測量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。
Sonopen可更換延遲塊探頭 • 聚焦的可更換延遲塊。
• 尖端直徑極小的特點(diǎn)可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。
• 手柄可以方便探頭頭部的定位。
頻率 晶片尺寸 標(biāo)稱 探頭
MHz 英寸 毫米 平直手柄 直角手柄 45°手柄
15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
帶有手柄組合件的延遲塊探頭
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進(jìn)行探測，如：相距很近的渦輪葉片。
探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了其在狹小區(qū)域接觸被測工件的能力。
頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸延遲塊長度 探頭工件編號 MHz 英寸 毫米 微秒 20 0.125 3 1.5 M2054 20 0.125 3 4.5 M2055 20 0.125 3 4 V2034
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聯(lián)系方式
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測儀
- 超聲波測厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測儀
- 鈍化膜測試儀
- 附著力測試儀
- 相控陣探傷儀
- 球化率檢測儀
- 地下管線探測
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測試儀
- 矯頑力測量系統(tǒng)
- 鐵素體含量測試儀
- 動態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)
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計(jì)量測試儀
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環(huán)境暖通測試
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光纖通信測試
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電子電工測試儀
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其他
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