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Evident渦流陣列探傷儀OmniScan MX ECA/ECT
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
OmniScan MX ECA/ECT |
| 品 牌： |
Evident |
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| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2026-05-25 |
| | 品牌：Evident | | 型號(hào)：OmniScan MX ECA/ECT | | 加工定制：是 | |
| | 適用范圍：10Hz -20MHz | | 測試頻率：20 Hz ～ 6 MHz | | 靈敏度：0.1° | |
| | 相位范圍：0°～ 360°，步距為0.1° | | 外形尺寸：321 mm × 209 mm × 125 mm | | 靈敏度：0.1° | |
儀景通Evident 渦流陣列探傷儀 OmniScan MX ECA/ECT
奧林巴斯科學(xué)事業(yè)公司現(xiàn)在更名為：儀景通Evident，我們致力于創(chuàng)造先進(jìn)的生命科學(xué)和工業(yè)解決方案，幫助世界變得更安全、更健康的承諾始終不變。
經(jīng)過實(shí)地驗(yàn)證，檢測性能可靠
OmniScan MX探傷儀的機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用，可以抵御嚴(yán)酷、惡劣的檢測環(huán)境。現(xiàn)在，世界各地正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺(tái)。這款儀器小巧、輕盈，使用兩個(gè)鋰離子電池供電。在電池充滿電量時(shí)，可以進(jìn)行長達(dá)6小時(shí)的手動(dòng)或半自動(dòng)檢測。
OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時(shí)顯示高清彩色圖像。在大多數(shù)光線條件下，操作人員都可以觀察到缺陷以及材料的細(xì)微情況。用戶可以使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡單、直觀的界面上輕松瀏覽，還可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器，借助鼠標(biāo)方便地進(jìn)行檢測分析。
三種檢測技術(shù)，操作更為靈活
無論您的檢測程序需要渦流技術(shù)，還是渦流陣列技術(shù)，抑或是粘接檢測技術(shù)，裝配有渦流陣列模塊的OmniScan MX1探傷儀都可以為您提供適當(dāng)?shù)墓δ芎图夹g(shù)規(guī)格，使您圓滿地
完成任務(wù)。儀器使用的MXE軟件用于渦流檢測和渦流陣列檢測，而其MXB軟件則用于粘接檢測。這兩個(gè)軟件的界面極為相似，且都非常簡潔直觀，因此可以方便地切換使用。
1. 可以支持大多數(shù)常規(guī)NORTEC ECT探頭（需要獨(dú)立的適配器或線纜）。
2. 渦流陣列探頭*多提供32個(gè)通道，借助（選配的）外置多路轉(zhuǎn)換器，*多可提供64個(gè)通道。
3. 粘接檢測C掃描需要一個(gè)獨(dú)立的適配器，才可以工作。
ECA與ECT別無二致 覆蓋范圍廣，掃查速度快，檢出概率高
渦流陣列（ECA）技術(shù)需要使用多個(gè)傳統(tǒng)的橋式或反射式（發(fā)射器-接收器）探頭線圈進(jìn)行檢測，以在單次掃查中覆蓋更大的范圍。此外，每款ECA探頭都經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可在沿探頭長度方向上的目標(biāo)缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時(shí)，可以非�？斓乃俣仁謩�(dòng)移動(dòng)ECA探頭進(jìn)行檢測，并借助彩色圖像和歸檔功能完成性能強(qiáng)大、效率很高的檢測。
透過薄涂層進(jìn)行檢測
渦流檢測（ECT）技術(shù)基于以下磁耦合工作原理：接近被測工件（鐵磁性或非鐵磁性的導(dǎo)電材料）的探頭傳感器（線圈）在被測工件中產(chǎn)生渦流，并在儀器的阻抗圖中顯示信號(hào)。使用渦流技術(shù)時(shí)，只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi)，一般為0.5毫米到2.0毫米，就可以透過薄涂層（如：漆層）探測到材料中的缺陷。
由于渦流陣列和ECT技術(shù)基于相同的基本原理（及物理學(xué)理論），因此渦流陣列技術(shù)也可以透過漆層進(jìn)行檢測，此外，還可以提供渦流陣列（ECA）技術(shù)的優(yōu)勢特性，其中包括：覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高，及彩色成像功能。
渦流檢測使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化，以更好地適用 于特定的應(yīng)用。
1. 在所選的頻率下，通過線圈的交流電流在線圈周圍產(chǎn)生磁場。
2. 當(dāng)線圈靠近導(dǎo)電材料時(shí)，材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。
3. 如果導(dǎo)電材料中的缺陷干擾了渦流的流通，則探頭的磁耦合效果會(huì)發(fā)生改變。通過測量線圈的阻抗變化，可以解讀缺陷信號(hào)。
