美國(guó)GE貝克休斯歐式探頭B5F
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
B5F |
| 品 牌： |
美國(guó)GE |
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| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2026-05-25 |
| | 品牌：美國(guó)GE | | 型號(hào)：B5F | | 加工定制：否 | |
| | 用途：測(cè)厚儀探頭 | | 是否進(jìn)口：是 | | 產(chǎn)地：美國(guó) | |
美國(guó)GE貝克休斯歐式探頭
美國(guó)GE歐式探頭 指尖探頭B..F和MB..F：可以與探頭K..G和K..N相比較，但是由于扁平設(shè)計(jì)，它們非常適合于那些不容易接近的位置的測(cè)試。經(jīng)常被稱(chēng)作"搜索探頭"。
| 帶硬質(zhì)陶瓷接觸表面的指尖式直探頭 |
特性：非常好的穿透性 /抗磨損性能好 / 扁平設(shè)計(jì) |
B1F
B2F
B4F
B5F |
20
20
20
20 |
1
2
4
5 |
20-1300
10-4000
6-7500
6-10000 |
16
31
62
76 |
8
1
3
2.5 |
1-20
2-20
4-20
5-20 |
MB2F
MB4F
MB5F
MB10F |
10
10
10
10 |
2
4
5
6 |
13-2500
6-5000
5-6200
3-12000 |
8
16
19
36 |
4
3
2.5
2 |
2-10
4-10
5-10
10-10 |
探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
