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M2054探傷儀探頭美國(guó)泛美
產(chǎn)品型號(hào)： M2054 品 牌： 美國(guó)泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢(xún)價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2026-05-25 詳細(xì)信息品牌：美國(guó)泛美 型號(hào)：M2054 加工定制：否 類(lèi)型：超聲波 測(cè)量范圍：24 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 M2054探傷儀探頭美國(guó)泛美 介紹
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場(chǎng)分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測(cè)厚。
• 垂直聲束缺陷探測(cè)。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。
帶有手柄組合件的永久延遲塊探頭
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進(jìn)行探測(cè)，如：相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了其在狹小區(qū)域接觸被測(cè)工件的能力。
頻率 標(biāo)稱(chēng)
晶片尺寸延遲塊長(zhǎng)度 探頭工件編號(hào) MHz 英寸 毫米 微秒 20 0.125 3 1.5 M2054 20 0.125 3 4.5 M2055 20 0.125 3 4 V2034 -
聯(lián)系方式
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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http://www.zghigo.cn
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產(chǎn)品分類(lèi)
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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