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V204-RM探傷儀探頭美國泛美
產(chǎn)品型號(hào)： V204-RM 品 牌： 美國泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2026-05-25 詳細(xì)信息品牌：美國泛美 型號(hào)：V204-RM 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 測量范圍：10 分辨率：20*22 V204-RM探傷儀探頭美國泛美 介紹
可更換延遲塊探頭
• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和 一個(gè)固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。
選購型號(hào):
可更換延遲塊探頭選項(xiàng)頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸探頭工件編號(hào) MHz 英寸 毫米 2.25 0.25 6 V204-RM 5 0.50 13 V206-RM 0.25 6 V201-RM 10 0.25 6 V202-RM 0.125 3 V203-RM 15 0.25 6 V205-RM 20 0.125 3 V208-RM 標(biāo)準(zhǔn)
晶片尺寸標(biāo)稱
延遲塊高溫 干耦合
延遲塊備用固定環(huán) 帶有彈簧的支架 *高175°C
(350°F)*高260°C
(500°F)*高480°C
(900°F)英寸 毫米 0.50 13 DLH-2 DLHT-201 DLHT-2 DLHT-2G DLS-2 DRR-2 2130 0.25 6 DLH-1 DLHT-101 DLHT-1 DLHT-1G DLS-1 DRR-1 2127&DRR-1H 0.125 3 DLH-3 DLHT-301 DLHT-3 DLHT-3G DLS-3 DRR-3 2133&DRR-3H
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聯(lián)系方式
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測儀
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