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美國(guó)GE貝克休斯探頭B1SL
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：B1SL 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE貝克休斯探頭B1SL
直探頭主要特性
•單晶探頭進(jìn)行聲波脈沖的發(fā)射和接收
•縱波的垂直傳輸
•由于柔性的抗磨損保護(hù)膜而具有穩(wěn)定的耦合特性，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上
•特殊的粗晶探頭，在測(cè)試高的聲波衰減材料時(shí)，利用短的聲波脈沖可以達(dá)到高信噪比
•由于采用印模壓鑄成型，因此實(shí)際形狀具有很高的穩(wěn)定性
特性：在粗糙表面上具有穩(wěn)定的耦合性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見第4頁中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號(hào)。帶可更換保護(hù)膜的直探頭 主要特性：
·單晶探頭實(shí)現(xiàn)聲波的發(fā)射和接收
·縱波垂直傳輸
·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上，由于柔性的抗磨損保護(hù)膜而具有穩(wěn)定的耦合特性
·如果及時(shí)地更換保護(hù)膜，則探頭的磨損可以達(dá)到*小
·特殊的粗晶探頭，在測(cè)試高衰減材料時(shí)，利用短脈沖可以達(dá)到高信噪比
·由于采用印模壓鑄成型，因此實(shí)際形狀具有很高的穩(wěn)定性
通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探測(cè)和評(píng)估�？筛鼡Q的抗磨損的保護(hù)膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達(dá)到*好耦合，并防止探頭磨損。類型[訂購號(hào)碼] D [mm] f [MHz] AB [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀編號(hào) B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28
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聯(lián)系方式
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
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- 光譜儀
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- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
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計(jì)量測(cè)試儀
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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